系統介紹

XTOM—三維光學面掃描系統基于雙目立體視覺原理，采用外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大小（從30毫米到1米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。

應用方向

行業

汽車行業、航空航天、機械制造、文物修復、家具制造、醫療保[jian]等

逆向設計

快速獲取被測物體表面三維數據，建立物體三維模型，優化產品設計/還原設計圖

產品檢測

檢測范圍包括：產品點、線、面之間角度、距離、對稱度及位置度等關系：對比標準共建或設計圖分析產品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：對比產品使用前后數據分析產品使用損耗，分析產品性能及壽命等。可檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等。

其他應用

技術參數

常規標準型

型號

XTOM-TC

XTOM-ED-I

XTOM-ED-II

測量幅面(mm)

200*150/400*300

200*150/400*300

200*150/400*300

相機像素

2*130w

2*130w

4*230w

測量精度(mm)

0.04

0.025/0.03

0.025~0.03

采樣點距(mm)

0.15/0.3

0.1/0.2

0.1~0.2

標準測距(mm)

350/850

450/850

450/850

掃描時間(s)

2~4

掃描光源

藍/白

拼接方式

標志點/特征/手動

高端工業型

型號

XTOM-ET-I

XTOM-ET-II

XTOM-ET-III

測量幅面(mm)

200*150/400*300

200*150/400*300

800*600

相機像素

2*230w

2*500w

2*500w

測量精度(mm)

0.02/0.025

0.01/0.015

0.03

采樣點距(mm)

0.1/0.2

0.08/0.15

0.3

標準測距(mm)

450/850

450/850

1600

掃描時間(s)

2~8

掃描光源

藍/白

拼接方式

標志點/特征/手動

備注：高端工業型CCD支持升級600萬/900萬，支持依據客戶需求定制。